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2018年6月2日，為期四天的廣州陶瓷工業(yè)展圓滿落下帷幕。展會雖已落幕，精彩值得回味。參展期間，珠海真理光學(xué)儀器有限公司（以下簡稱真理光學(xué)）集中展示了廣泛地應(yīng)用于陶瓷粉體顆粒表征的納米粒度儀和激光粒度儀，可快速檢測從納米到微米的顆粒粒度分布，其中，新研發(fā)的高性價(jià)比粒度儀——LT2200系列激光粒度儀的華麗展示更是引來諸多行業(yè)人士駐足參觀，在展會首日就引發(fā)了觀展狂潮。
真理光學(xué)技術(shù)團(tuán)隊(duì)具有超過二十年的粒度表征及應(yīng)用開發(fā)的經(jīng)驗(yàn)，是為數(shù)不多的既有能力從事顆粒表征基礎(chǔ)理論研究又能自主研發(fā)和生產(chǎn)粒度儀產(chǎn)品的公司。真理光學(xué)一直于讓粒度測試更方便快捷，讓測試結(jié)果更可靠。LT2200系列粒度儀是真理光學(xué)基于用戶對高性價(jià)比儀器的需求而開發(fā)的一代超高速智能激光粒度分析系統(tǒng)。LT2200加持了真理光學(xué)*的衍射愛里斑反常變化（ACAD)的補(bǔ)償修正技術(shù)及偏振濾波技術(shù)，測量范圍為0.02um-2200um，測量速度高達(dá)創(chuàng)紀(jì)錄的每秒20000次，測量時(shí)間典型值小于10秒，用戶無需選擇分析模式，即可在全粒徑范圍獲得可靠的粒度結(jié)果。該儀器測量時(shí)無需更換透鏡，也無需使用標(biāo)準(zhǔn)樣校準(zhǔn)，簡化了測量流程，提升了檢測效率。
展會已然落幕，前進(jìn)不能止步。真理光學(xué)秉承的信念，不斷創(chuàng)新，堅(jiān)持自主研發(fā)，定會以更多高品質(zhì)的產(chǎn)品回饋每一位客戶！
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